文献
J-GLOBAL ID:202002257732141833
整理番号:20A2528721
修正ビットマスクに基づく方法に基づくシステムオンチップのための熱を意識した試験データ圧縮【JST・京大機械翻訳】
Thermal-aware Test Data Compression for System-on-Chip Based on Modified Bitmask Based Methods
著者 (3件):
Arulmurugan Azhaganantham
(Department of ECE, Kongu Engineering College, Perundurai, TamilNadu, India)
,
Murugesan Govindasamy
(Department of ECE, Kongu Engineering College, Perundurai, TamilNadu, India)
,
Vivek Balasubramaniam
(Department of ECE, Kongu Engineering College, Perundurai, TamilNadu, India)
資料名:
Journal of Electronic Testing. Theory and Applications
(Journal of Electronic Testing. Theory and Applications)
巻:
36
号:
5
ページ:
577-590
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2084A
ISSN:
0923-8174
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)