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文献
J-GLOBAL ID：202002260638023251
整理番号：20A1752925
製品変異体におけるセキュリティ欠陥の発見のためのテスト生成【JST・京大機械翻訳】
Generating Tests for the Discovery of Security Flaws in Product Variants
Araujo Francisco
(Universidade de Lisboa,LASIGE, Faculdade de Cie^ncias,Portugal)
,
Medeiros Iberia
(Universidade de Lisboa,LASIGE, Faculdade de Cie^ncias,Portugal)
,
Neves Nuno
(Universidade de Lisboa,LASIGE, Faculdade de Cie^ncias,Portugal)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： ICSTW ページ： 133-142 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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