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文献
J-GLOBAL ID：202002260646871016
整理番号：20A0835767
下部電離層における全波法を用いた観測イオノグラムからのIRIElectron密度プロファイルの修正【JST・京大機械翻訳】
Modification of the IRI Electron Density Profile from an Observation Ionogram Using the Full Wave Method in the Lower Ionosphere
Fukami Tetsuo
(National Institute of Technology, Ishikawa College,Tsubata, Ishikawa,Japan,929-0392)
,
Nagano Isamu
(Kanazawa University,Japan)
,
Higashi Ryoichi
(National Institute of Technology, Ishikawa College,Tsubata, Ishikawa,Japan,929-0392)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： PIERS-Spring ページ： 2764-2767 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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