文献
J-GLOBAL ID:202002261155312638
整理番号:20A2715998
劣化確率モデルに基づく太陽光発電モジュールの保証評価【JST・京大機械翻訳】
Warranty assessment of photovoltaic modules based on a degradation probabilistic model
著者 (4件):
Prieto-Castrillo Francisco
(ETSIS Telecomunicacion, Campus Sur. Electronica Fisica, Ingenieria Electrica y Fisica Aplicada (Complex Systems Group), Universidad Politecnica de Madrid, Madrid, Spain)
,
Prieto-Castrillo Francisco
(Media Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, 75 Amherst St, Cambridge, MA, Cambridge, MA, 02139, USA)
,
Nunez Neftali
(Instituto de Energia Solar. Dpto. Electronica Fisica, Ingenieria Electrica y Fisica Aplicada. ETSIST Telecomunicacion Campus Sur, Universidad Politecnica de Madrid, Madrid, Spain)
,
Vazquez Manuel
(Instituto de Energia Solar. Dpto. Electronica Fisica, Ingenieria Electrica y Fisica Aplicada. ETSIST Telecomunicacion Campus Sur, Universidad Politecnica de Madrid, Madrid, Spain)
資料名:
Progress in Photovoltaics
(Progress in Photovoltaics)
巻:
28
号:
12
ページ:
1308-1321
発行年:
2020年
JST資料番号:
W0463A
ISSN:
1062-7995
CODEN:
PPHOED
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)