文献
J-GLOBAL ID:202002261465172631
整理番号:20A0904677
65nm CMOSにおけるディジタル較正70.98dB-SNDR 625kHz帯域幅温度耐性2次雑音整形SAR ADC【JST・京大機械翻訳】
A Digitally-Calibrated 70.98dB-SNDR 625kHz-Bandwidth Temperature-Tolerant 2nd-order Noise-Shaping SAR ADC in 65nm CMOS
著者 (3件):
Yoon Jae Sik
(Konkuk University,Department of Electrical and Electronics Engineering,Seoul,Korea)
,
Hong Jiyoon
(Konkuk University,Department of Electrical and Electronics Engineering,Seoul,Korea)
,
Kim Jintae
(Konkuk University,Department of Electrical and Electronics Engineering,Seoul,Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
A-SSCC
ページ:
195-196
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)