文献
J-GLOBAL ID:202002262158025139
整理番号:20A2204540
量子井戸ダイオードレーザの直列抵抗に及ぼす捕獲時間の影響【JST・京大機械翻訳】
Impact of the capture time on the series resistance of quantum-well diode lasers
著者 (4件):
Boni A
(Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut fuer Hochstfrequenztechnik, Gustav-Kirchhoff-Str. 4, 12489 Berlin, Germany)
,
Wuensche H J
(Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut fuer Hochstfrequenztechnik, Gustav-Kirchhoff-Str. 4, 12489 Berlin, Germany)
,
Wenzel H
(Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut fuer Hochstfrequenztechnik, Gustav-Kirchhoff-Str. 4, 12489 Berlin, Germany)
,
Crump P
(Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut fuer Hochstfrequenztechnik, Gustav-Kirchhoff-Str. 4, 12489 Berlin, Germany)
資料名:
Semiconductor Science and Technology
(Semiconductor Science and Technology)
巻:
35
号:
8
ページ:
085032 (9pp)
発行年:
2020年
JST資料番号:
E0503B
ISSN:
0268-1242
CODEN:
SSTEET
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)