文献
J-GLOBAL ID:202002262737390826
整理番号:20A2216684
メモリスタメモリのための変動耐性,低電力,高耐久性読取方式【JST・京大機械翻訳】
Variation-tolerant, low-power, and high endurance read scheme for memristor memories
著者 (3件):
Ravi V.
(School of Electronics Engineering, Vellore Institute of Technology, Chennai, India)
,
Chitra K.
(School of Electronics Engineering, Vellore Institute of Technology, Chennai, India)
,
Prabaharan S. R. S.
(SRM Research Institute, SRM Institute of Science and Technology, Kattankulathur, India)
資料名:
Analog Integrated Circuits and Signal Processing
(Analog Integrated Circuits and Signal Processing)
巻:
105
号:
1
ページ:
83-98
発行年:
2020年
JST資料番号:
W0439A
ISSN:
0925-1030
CODEN:
AICPEF
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)