文献
J-GLOBAL ID:202002263191508938
整理番号:20A2500808
ターンオフ損失に基づくパワーエレクトロニクスデバイスのオンライン信頼性状態検出法に関する研究【JST・京大機械翻訳】
Research on On-line Reliability State Detection Method of Power Electronic Devices Based on Turn-off Losses
著者 (2件):
Wei Weiwei
(Shanghai University,School of Mechatronic Engineering and Automation,Shanghai,China)
,
Xu Guoqing
(Shanghai University,School of Mechatronic Engineering and Automation,Shanghai,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICPRE
ページ:
16-20
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)