文献
J-GLOBAL ID:202002263908718273
整理番号:20A2628336
FIT:深層学習と二分マッチングによるクロスアーキテクチャファームウェアにおける検査脆弱性【JST・京大機械翻訳】
FIT: Inspect vulnerabilities in cross-architecture firmware by deep learning and bipartite matching
著者 (5件):
Liang Hongliang
(Beijing University of Posts and Telecommunications,School of Computer Beijing 100876 China)
,
Xie Zhuosi
(Beijing University of Posts and Telecommunications,School of Computer Beijing 100876 China)
,
Chen Yixiu
(Beijing University of Posts and Telecommunications,School of Computer Beijing 100876 China)
,
Ning Hua
(China Academy of Information and Communications Technology, Beijing, 100191, China)
,
Wang Jianli
(China Information Technology Security Evaluation Center, Beijing, 100085, China)
資料名:
Computers & Security
(Computers & Security)
巻:
99
ページ:
Null
発行年:
2020年
JST資料番号:
E0995A
ISSN:
0167-4048
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)