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文献
J-GLOBAL ID：202002265325656058
整理番号：20A1101042
光電子フィールドプログラマブルゲートアレイのための放射線劣化解析と回路性能改善法【JST・京大機械翻訳】
Radiation-degradation Analysis and a Circuit Performance Improvement Method for Optoelectronic Field Programmable Gate Array
Ito Hirotoshi
(Shizuoka University,Graduate School of Integrated Science and Technology,3-5-1 Johoku, Hamamatsu,Shizuoka,Japan,432-8561)
,
Watanabe Minoru
(Shizuoka University,Graduate School of Integrated Science and Technology,3-5-1 Johoku, Hamamatsu,Shizuoka,Japan,432-8561)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： SOCC ページ： 306-311 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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