文献
J-GLOBAL ID:202002267510679743
整理番号:20A2556315
スピン軌道トルク磁気抵抗ランダムアクセスメモリにおけるエッジ粗さによる形状変形の効果【JST・京大機械翻訳】
Effect of Shape Deformation by Edge Roughness in Spin-Orbit Torque Magnetoresistive Random-Access Memory
著者 (3件):
Byun Jihun
(School of Electrical Engineering Korea Advanced Institute of Science and Technology,Daejeon,Republic of Korea,34141)
,
Kang Doo Hyung
(School of Electrical Engineering Korea Advanced Institute of Science and Technology,Daejeon,Republic of Korea,34141)
,
Shin Mincheol
(School of Electrical Engineering Korea Advanced Institute of Science and Technology,Daejeon,Republic of Korea,34141)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
SISPAD
ページ:
205-208
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)