文献
J-GLOBAL ID:202002267599044619
整理番号:20A0818859
ディジタルエレクトロニクス回路のテスト可能なQCA技術におけるデュアルレールチェッカーの新しいロバスト設計【JST・京大機械翻訳】
A New Robust Design of Dual-Rail Checker in QCA Technology, Capable of Testing of Digital Electronics Circuit
著者 (3件):
Kumar D Kiran
(Vignan institute of technology and science,Dept of electronics & communication engineering,Deshmukhi, Hyderabad,India)
,
Shankar V
(Vignan institute of technology and science,Dept of electronics & communication engineering,Deshmukhi, Hyderabad,India)
,
Vittal K
(Vignan institute of technology and science,Dept of electronics & communication engineering,Deshmukhi, Hyderabad,India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ICSSIT
ページ:
759-763
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)