文献
J-GLOBAL ID:202002267632617052
整理番号:20A2576048
ビレンズ干渉計に基づくX線位相コントラストイメージング技術【JST・京大機械翻訳】
X-ray phase-contrast imaging technique based on a bilens interferometer
著者 (5件):
Zverev D.
(Immanuel Kant Baltic Federal University, 14 A. Nevskogo, Kaliningrad 236041, Russia)
,
Snigireva I.
(European Synchrotron Radiation Facility (ESRF), 71 avenue des Martyrs, Grenoble 38043, France)
,
Kuznetsov S.
(Institute of Microelectronics Technology RAS, 6 Institutskiy Prospekt, Chernogolovka 142432, Russia)
,
Yunkin V.
(Institute of Microelectronics Technology RAS, 6 Institutskiy Prospekt, Chernogolovka 142432, Russia)
,
Snigirev A.
(Immanuel Kant Baltic Federal University, 14 A. Nevskogo, Kaliningrad 236041, Russia)
資料名:
AIP Conference Proceedings
(AIP Conference Proceedings)
巻:
2299
号:
1
ページ:
060013-060013-6
発行年:
2020年
JST資料番号:
D0071C
ISSN:
0094-243X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)