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文献
J-GLOBAL ID：202002268036196895
整理番号：20A2241951
角度分解飛行時間電子分析器を用いた時間分解X線光電子回折
Time-resolved X-ray photoelectron diffraction using an angle-resolved time-of-flight electron analyzer
Ang Artoni Kevin R.
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
,
Fukatsu Yuichiro
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
,
Kimura Koji
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
,
Yamamoto Yuta
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
,
Yonezawa Takahiro
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
,
Nitta Hirokazu
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
,
Fleurence Antoine
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
,
Yamamoto Susumu
(The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, Kashiwa, Chiba 277-8581, Japan)
,
Matsuda Iwao
(The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, Kashiwa, Chiba 277-8581, Japan)
,
Yamada-Takamura Yukiko
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
,
Hayashi Kouichi
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
,
Hayashi Kouichi
(Frontier Research Institute for Materials Science, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 59 号： 10 ページ： 100902 (5pp) 発行年： 2020年10月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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