文献
J-GLOBAL ID:202002268787216504
整理番号:20A2258409
生産試験中のNBTIおよびHCIエージング予測と信頼性スクリーニング【JST・京大機械翻訳】
NBTI and HCI Aging Prediction and Reliability Screening During Production Test
著者 (4件):
Yu Liting
(School of Electronics and Information Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Ren Jianguo
(DFT Methodology Group, MediaTek, Inc., Beijing, China)
,
Lu Xian
(DFT Methodology Group, MediaTek, Inc., Beijing, China)
,
Wang Xiaoxiao
(School of Electronics and Information Engineering, Beihang University, Beijing, China)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
39
号:
10
ページ:
3000-3011
発行年:
2020年
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)