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文献
J-GLOBAL ID：202002269609298752
整理番号：20A1030403
誘電体/電極界面修飾を通して空間電荷制限電流を制御することによるPt/LnO/BST/Au薄膜の大幅に増強された破壊強度【JST・京大機械翻訳】
Greatly enhanced breakdown strength of Pt/LNO/BST/Au thin films by regulating the space charge limited current though the dielectrics/electrode interface modification
Chen Xiaoyang
(College of Material Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu, 610064, China)
,
Zhang Yi
(College of Material Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu, 610064, China)
,
Xie Bin
(College of Material Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu, 610064, China)
,
Wang Wenwu
(College of Material Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu, 610064, China)
,
Ding MingJian
(School of Materials Science and Engineering, South China University of Technology, GuangZhou, 510640, China)
,
Yu Ping
(College of Material Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu, 610064, China)
資料名：
Journal of Alloys and Compounds
(Journal of Alloys and Compounds)
巻： 831 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： D0083A ISSN： 0925-8388 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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