文献
J-GLOBAL ID:202002273844034747
整理番号:20A0914136
異なる基板バイアスの下でのGaNベースバックコンバータのスイッチング損失特性化【JST・京大機械翻訳】
Switching Loss Characterization of GaN-based Buck Converter under Different Substrate Biases
著者 (4件):
Safayatullah Md
(University of Central Florida,Department of Electrical and Computer Engineering,Orlando,FL,U.S.A.,32816)
,
Yang Wen
(University of Central Florida,Department of Electrical and Computer Engineering,Orlando,FL,U.S.A.,32816)
,
Yuan Jiann-Shiun
(University of Central Florida,Department of Electrical and Computer Engineering,Orlando,FL,U.S.A.,32816)
,
Krishnan Balakrishnan
(BRIDG,200 NanoCity Way, Kissimmee,FL,U.S.A.,34744)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
WiPDA
ページ:
374-377
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)