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文献
J-GLOBAL ID：202002274556707752
整理番号：20A1751359
InFOUHD(超高密度)技術の応用と信頼性研究【JST・京大機械翻訳】
Applications and Reliability Study of InFO_UHD (Ultra-High-Density) Technology
Ko T.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.,Hsinchu,R.O.C.)
,
Pu H. P.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.,Hsinchu,R.O.C.)
,
Chiang Y.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.,Hsinchu,R.O.C.)
,
Kuo H. J.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.,Hsinchu,R.O.C.)
,
Wang C. T.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.,Hsinchu,R.O.C.)
,
Liu C. S.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.,Hsinchu,R.O.C.)
,
Yu Douglas C. H.
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.,Hsinchu,R.O.C.)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： ECTC ページ： 1120-1125 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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