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文献
J-GLOBAL ID：202002276474402592
整理番号：20A2127753
極低温およびドレイン電圧分極におけるフリッカ雑音起源を識別する改良型物理ベース解析【JST・京大機械翻訳】
Improved physics-based analysis to discriminate the flicker noise origin at very low temperature and drain voltage polarization
Cretu B.
(Normandie Univ, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS, GREYC, 14000 Caen, France)
,
Boudier D.
(Normandie Univ, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS, GREYC, 14000 Caen, France)
,
Simoen E.
(Imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Simoen E.
(Solid-State Physics Department, Ghent University, 9000 Gent, Belgium)
,
Veloso A.
(Imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Collaert N.
(Imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Claeys C.
(E.E. Dept. KU Leuven, Kasteelpark Arenberg 10, B-3001 Leuven, Belgium)
資料名：
Solid-State Electronics
(Solid-State Electronics)
巻： 171 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： H0225A ISSN： 0038-1101 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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