文献
J-GLOBAL ID:202002277081781943
整理番号:20A0496725
Cu(In,Ga)Se_2電位誘起劣化のその場顕微鏡キャラクタリゼーション【JST・京大機械翻訳】
In-situ Microscopy Characterization of Cu(In,Ga)Se2 Potential-Induced Degradation
著者 (9件):
Xiao Chuanxiao
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Jiang Chun-Sheng
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Harvey Steven P.
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Mansfield Lorelle
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Muzzillo Christopher P.
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Sulas Dana
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Liu Jun
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Johnston Steve
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
,
Al-Jassim Mowafak
(National Renewable Energy Laboratory,Golden,CO,USA,80401)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
PVSC
ページ:
2342-2345
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)