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文献
J-GLOBAL ID：202002277708843626
整理番号：20A1235555
マイクロプローブホール電界イオン顕微鏡によるW(112)のステップエッジでの電界イオン化における電子トンネリングの局所障壁場変化に関する研究
Study on the local barrier field variations for electron tunneling in field ionization at a step edge of W(112) with a micro-probe hole field ion microscope
Ohta Yasushi
(Department of Applied Physics and Electronics, Graduate School of Engineering, Osaka City University, 3-3-138 Sugimoto, Sumiyoshi-ku, Osaka, 558-8585, Japan)
,
Kobayashi Ataru
(Department of Applied Physics and Electronics, Graduate School of Engineering, Osaka City University, 3-3-138 Sugimoto, Sumiyoshi-ku, Osaka, 558-8585, Japan)
,
Nakayama Masaaki
(Department of Applied Physics and Electronics, Graduate School of Engineering, Osaka City University, 3-3-138 Sugimoto, Sumiyoshi-ku, Osaka, 558-8585, Japan)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 59 号： 1 ページ： 015004 (5pp) 発行年： 2020年01月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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