文献
J-GLOBAL ID:202002277861802390
整理番号:20A2624954
最適化試験データの生成:系統的マッピング研究の予備解析【JST・京大機械翻訳】
The Generation of Optimized Test Data: Preliminary Analysis of a Systematic Mapping Study
著者 (1件):
ULUTAS Derya Yeliz
(ASELSAN Inc,Ankara,Turkey)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
UYMS
ページ:
1-4
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)