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文献
J-GLOBAL ID：202002278600453125
整理番号：20A0911698
最新の3nm CMOS技術ライブラリにおけるセルアウェア試験の応用【JST・京大機械翻訳】
Application of Cell-Aware Test on an Advanced 3nm CMOS Technology Library
Gao Zhan
(TU Eindhoven,Den Dolech 2, Eindhoven,AZ,the Netherlands,5612)
,
Malagi Santosh
(Cadence Design Systems,1701 North Street, Endicott,NY,United States of America,13760)
,
Hu Min-Chun
(National Tsing-Hua Univ.,101, Section 2, Kuang-Fu Road, Hsinchu,Taiwan,30013)
,
Swenton Joe
(Cadence Design Systems,1701 North Street, Endicott,NY,United States of America,13760)
,
Baert Rogier
(IMEC,Kapeldreef 75, Leuven,Belgium,3001)
,
Huisken Jos
(TU Eindhoven,Den Dolech 2, Eindhoven,AZ,the Netherlands,5612)
,
Chehab Bilal
(IMEC,Kapeldreef 75, Leuven,Belgium,3001)
,
Goossen Kees
(TU Eindhoven,Den Dolech 2, Eindhoven,AZ,the Netherlands,5612)
,
Marinissen Erik Jan
(TU Eindhoven,Den Dolech 2, Eindhoven,AZ,the Netherlands,5612)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： ITC ページ： 1-6 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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