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文献
J-GLOBAL ID：202002280331762682
整理番号：20A0522415
室温テラヘルツ光検出のためのMOS_2の欠陥工学【JST・京大機械翻訳】
Defect Engineering of MoS2 for Room-Temperature Terahertz Photodetection
Xie Ying
(State Key Laboratory of Crystal Materials and Institute of Crystal Materials, Shandong University, China)
,
Liang Fei
(State Key Laboratory of Crystal Materials and Institute of Crystal Materials, Shandong University, China)
,
Chi Shumeng
(State Key Laboratory of Crystal Materials and Institute of Crystal Materials, Shandong University, China)
,
Wang Dong
(School of Physics, Shandong University, China)
,
Zhong Kai
(Key Laboratory of Opto-electronics Information Technology (Ministry of Education), Tianjin University, China)
,
Yu Haohai
(State Key Laboratory of Crystal Materials and Institute of Crystal Materials, Shandong University, China)
,
Zhang Huaijin
(State Key Laboratory of Crystal Materials and Institute of Crystal Materials, Shandong University, China)
,
Chen Yanxue
(School of Physics, Shandong University, China)
,
Wang Jiyang
(State Key Laboratory of Crystal Materials and Institute of Crystal Materials, Shandong University, China)
資料名：
ACS Applied Materials & Interfaces
(ACS Applied Materials & Interfaces)
巻： 12 号： 6 ページ： 7351-7357 発行年： 2020年
JST資料番号： W2329A ISSN： 1944-8244 CODEN： AAMICK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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