文献
J-GLOBAL ID:202002280524841614
整理番号:20A2448549
空洞リングダウン法による超高反射率の精密測定【JST・京大機械翻訳】
Precise measurements of super-high reflectance with cavity ring-down technique
著者 (3件):
Xiao Shilei
(School of Optoelectronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China)
,
Li Bincheng
(School of Optoelectronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China)
,
Wang Jing
(School of Optoelectronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China)
資料名:
Metrologia
(Metrologia)
巻:
57
号:
5
ページ:
055002 (8pp)
発行年:
2020年
JST資料番号:
B0698A
ISSN:
0026-1394
CODEN:
MTRGAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)