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J-GLOBAL ID：202002280907483572 整理番号：20A1439321

SiAlONシンチレータを評価するためのマイクロイオンビーム誘起ルミネセンス分光法【JST・京大機械翻訳】

Micro-ion beam-induced luminescence spectroscopy for evaluating SiAlON scintillators

著者 (7件)：

Kada W.

(Faculty of Science and Technology, Gunma University, 1-5-1 Tenjin-cho, Kiryu, Gunma 376-8515, Japan)

Satoh T.

(Takasaki Advanced Radiation Research Institute (TARRI), Quantum Beam Science Research Directorate, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki-machi, Takasaki, Gunma 370-1292, Japan)

Yamada S.

(Research & Development Department, Denka Co. Ltd., 2-1-1 Nihonbashi-Muromachi, Chuo-ku, Tokyo 103-8338, Japan)

Koka M.

(Beam Operation Co., Ltd, 1233, Watanukicho, Takasaki, Gunma 370-1292, Japan)

Yamada N.

Miura K.

(Faculty of Science and Technology, Gunma University, 1-5-1 Tenjin-cho, Kiryu, Gunma 376-8515, Japan)

Hanaizumi O.

(Faculty of Science and Technology, Gunma University, 1-5-1 Tenjin-cho, Kiryu, Gunma 376-8515, Japan)

資料名：

Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)

巻： 477 ページ： 66-72 発行年： 2020年
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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