文献
J-GLOBAL ID:202002281571686828
整理番号:20A2443510
電流ルビジウム電圧曲線においてどの物理学がか?光起電力デバイス測定からの欠陥特性の推測【JST・京大機械翻訳】
How Much Physics is in a Current-Voltage Curve? Inferring Defect Properties From Photovoltaic Device Measurements
著者 (6件):
Kurchin Rachel C.
(Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, USA)
,
Poindexter Jeremy R.
(Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, USA)
,
Vahanissi Ville
(Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland)
,
Savin Hele
(Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland)
,
del Canizo Carlos
(Instituto de Energia Solar, Universidad Polite ́cnica de Madrid, Madrid, Spain)
,
Buonassisi Tonio
(Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, USA)
資料名:
IEEE Journal of Photovoltaics
(IEEE Journal of Photovoltaics)
巻:
10
号:
6
ページ:
1532-1537
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2305A
ISSN:
2156-3381
CODEN:
IJPEG8
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)