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文献
J-GLOBAL ID：202002282510417375
整理番号：20A2275379
バイオメトリックスと顔スプーフィング検出の概観【JST・京大機械翻訳】
An Overview of Biometrics and Face Spoofing Detection
Sudeep Sista Venkata Naga Veerabhadra Sai
(Department of ECE, Aditya Engineering College and Technology, East Godavari, AP, India)
,
Venkata Kiran S.
(Department of ECE, Aditya Engineering College and Technology, East Godavari, AP, India)
,
Nandan Durgesh
(Accendere Knowledge Management Services Pvt. Ltd., New-Delhi, India)
,
Kumar Sanjeev
(Accendere Knowledge Management Services Pvt. Ltd., New-Delhi, India)
資料名：
Lecture Notes in Electrical Engineering
(Lecture Notes in Electrical Engineering)
巻： 698 ページ： 871-881 発行年： 2020年
JST資料番号： W5070A ISSN： 1876-1100 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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