文献
J-GLOBAL ID:202002282889194749
整理番号:20A1017433
高温での不均一格子変化のためのセラミック薄膜の逆空間マップ測定【JST・京大機械翻訳】
Reciprocal Space Map Measurement of Ceramics Thin Films for Unequal Lattice Change at High Temperature
著者 (3件):
Saiki Atsushi
(University of Toyama, Graduate School of Science and Engineering for Research Toyama Japan Gohuku 3190)
,
Miwa Shogo
(University of Toyama, Graduate School of Science and Engineering for Education Toyama Japan)
,
Hashizume Takashi
(University of Toyama, Collaboration and Promotion Center for Industry and Academia Toyama Japan)
資料名:
Materials Science Forum
(Materials Science Forum)
巻:
985
ページ:
218-222
発行年:
2020年
JST資料番号:
D0716B
ISSN:
0255-5476
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)