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文献
J-GLOBAL ID：202002283145575654
整理番号：20A0489176
原子間力顕微鏡を用いた固体材料のHamaker定数を決定するための改良法に向けて I 任意の表面粗さに対する準静的解析【JST・京大機械翻訳】
Toward an Improved Method for Determining the Hamaker Constant of Solid Materials Using Atomic Force Microscopy. I. Quasi-Static Analysis for Arbitrary Surface Roughness
Stevenson Michael C.
(Davidson School of Chemical Engineering, Purdue University, Indiana, United States)
,
Beaudoin Stephen P.
(Davidson School of Chemical Engineering, Purdue University, Indiana, United States)
,
Corti David S.
(Davidson School of Chemical Engineering, Purdue University, Indiana, United States)
資料名：
Journal of Physical Chemistry C
(Journal of Physical Chemistry C)
巻： 124 号： 5 ページ： 3014-3027 発行年： 2020年
JST資料番号： W1877A ISSN： 1932-7447 CODEN： JPCCCK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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