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文献
J-GLOBAL ID:202002283217688646   整理番号:20A1236163

その場二次元X線回折測定により決定した非晶質から多結晶SnドープIn2O3膜への内在秩序の進展

Evolution of implicate order from amorphous to polycrystalline Sn-doped In2O3 films determined by in situ two-dimensional X-ray diffraction measurements
著者 (9件):
Furubayashi Yutaka
(Materials Design Center, Research Institute, Kochi University of Technology, Tosayamadacho-Miyanokuchi 185, Kami 782-8502, Japan)
Kobayashi Shintaro
(Rigaku Cooperation, Matsubaracho 3-9-12, Akishima 196-8666, Japan)
Maehara Makoto
(Industrial Equipment Division, Sumitomo Heavy Industries, Ltd., Soubiraki-cho 5-2, Niihama 792-8588, Japan)
Ishikawa Kazuhiko
(Rigaku Cooperation, Matsubaracho 3-9-12, Akishima 196-8666, Japan)
Inaba Katsuhiko
(Rigaku Cooperation, Matsubaracho 3-9-12, Akishima 196-8666, Japan)
Sakemi Toshiyuki
(Technology Research Center, Sumitomo Heavy Industries, Ltd., Natsushimacho 19, Yokosuka 237-8555, Japan)
Kitami Hisashi
(Materials Design Center, Research Institute, Kochi University of Technology, Tosayamadacho-Miyanokuchi 185, Kami 782-8502, Japan)
Kitami Hisashi
(Technology Research Center, Sumitomo Heavy Industries, Ltd., Natsushimacho 19, Yokosuka 237-8555, Japan)
Yamamoto Tetsuya
(Materials Design Center, Research Institute, Kochi University of Technology, Tosayamadacho-Miyanokuchi 185, Kami 782-8502, Japan)

資料名:
Applied Physics Express  (Applied Physics Express)

巻: 13  号:ページ: 065502 (5pp)  発行年: 2020年06月 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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