文献
J-GLOBAL ID:202002283679561186
整理番号:20A2619668
二重パルス試験システムにおける寄生パラメータを特性化するためのシミュレーションに基づく方法【JST・京大機械翻訳】
Simulation Based Method to Characterize Parasitic Parameters in a Double Pulse Test System
著者 (4件):
Qu Jianzhen
(Harbin Institute of Technology,Department of Electrical Engineering,Harbin,China)
,
Yuan Xue
(Harbin Institute of Technology,Department of Electrical Engineering,Harbin,China)
,
Zhang Qianfan
(Harbin Institute of Technology,Department of Electrical Engineering,Harbin,China)
,
Cui Shumei
(Harbin Institute of Technology,Department of Electrical Engineering,Harbin,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICIEA
ページ:
898-903
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)