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文献
J-GLOBAL ID:202002283749451153   整理番号:20A0467291

ビスフェノールF型エポキシ樹脂/銅接着界面の劣化寿命に及ぼす時効条件の影響

著者 (5件):
鈴木陸
(群馬大 大学院)
荘司郁夫
(群馬大 大学院)
小林竜也
(群馬大 大学院)
戸野塚悠
(群馬大 大学院)
戸野塚悠
(ルネサスエレクトロニクス)

資料名:
Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics  (Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics)

巻: 26th  ページ: 143-146  発行年: 2020年01月28日 
JST資料番号: L2496A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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