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文献
J-GLOBAL ID：202002283780916299
整理番号：20A2648300
スケーリングダウン技術とスキームによる電流基準回路の電磁感受率に関する比較研究【JST・京大機械翻訳】
A comparison study on electromagnetic susceptibility of current reference circuits with scaling-down technologies and schemes
Wang Zhian
(School of Microelectronics, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Wang Zhian
(Key Laboratory of Silicon Devices and Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Li Binhong
(Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Li Binhong
(Guangdong Greater Bay Area Institute of Integrated Circuit and System, Guangdong, China)
,
Wu Jianfei
(National University of Defense Technology, Changsha, China)
,
Zhao Wenxin
(Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Li Bo
(Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Li Bo
(Key Laboratory of Silicon Devices and Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Liu Hainan
(Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Guan Chongjie
(School of Microelectronics, Beijing University of Technology, Beijing, China)
,
Feng Shiwei
(School of Microelectronics, Beijing University of Technology, Beijing, China)
,
Luo Jiajun
(Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
,
Ye Tianchun
(Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 114 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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