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文献
J-GLOBAL ID：202002284470491904
整理番号：20A0078825
明確なサブ開口面プロファイルからの自由形状表面の高精度干渉測定【JST・京大機械翻訳】
High precision interferometric measurement of freeform surfaces from the well-defined sub-aperture surface profiles
Hyun Sangwon
(Korea Basic Science Institute (Korea, Republic of))
,
Je Soonkyu
(Korea Basic Science Institute (Korea, Republic of))
,
Kim Geon-Hee
(Korea Basic Science Institute (Korea, Republic of))
資料名：
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻： 11175 ページ： 111752B-5 発行年： 2019年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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