文献
J-GLOBAL ID:202002286667553366
整理番号:20A0357773
ディジタル変電所ベイ制御器の外部メモリの信頼性を高める方法【JST・京大機械翻訳】
Methods of increasing the reliability of external memory of digital substation bay controllers
著者 (2件):
Lantsev D
(Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University, 195251 St. Petersburg, Russia)
,
Frolov V
(Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University, 195251 St. Petersburg, Russia)
資料名:
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
(IOP Conference Series: Materials Science and Engineering)
巻:
643
号:
1
ページ:
012117 (6pp)
発行年:
2019年
JST資料番号:
W5559A
ISSN:
1757-8981
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)