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文献
J-GLOBAL ID：202002287101365450
整理番号：20A1098805
低真空からヘリウム雰囲気までの条件下での先進材料の表面と界面の局所電子構造を調べるための走査軟X線分光顕微鏡の開発【JST・京大機械翻訳】
Development of a scanning soft X-ray spectromicroscope to investigate local electronic structures on surfaces and interfaces of advanced materials under conditions ranging from low vacuum to helium atmosphere
Oura Masaki
(RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo679-5148, Japan)
,
Ishihara Tomoko
(RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo679-5148, Japan)
,
Osawa Hitoshi
(JASRI, 1-1-1 Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo679-5198, Japan)
,
Yamane Hiroyuki
(RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo679-5148, Japan)
,
Hatsui Takaki
(RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo679-5148, Japan)
,
Ishikawa Tetsuya
(RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo679-5148, Japan)
資料名：
Journal of Synchrotron Radiation
(Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 27 号： 3 ページ： 664-674 発行年： 2020年
JST資料番号： W0763A ISSN： 0909-0495 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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