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J-GLOBAL ID：202002288010443902 整理番号：20A2052261

接触薄膜センサと高周波識別装置(RFID)を使用したその場温度測定

In-situ Temperature Measurement Using In-Contact Thin-Film Sensors and Radio Frequency Identification (RFID)

著者 (4件)：

THILAGARANI Dinesh Krishna

(Tokai Univ., JPN)

MANI Ganesh Kumar

(Tokai Univ., JPN)

OKIMURA Kunio

(Tokai Univ., JPN)

TSUCHIYA Kazuyoshi

(Tokai Univ., JPN)

資料名：

精密工学会大会学術講演会講演論文集(CD-ROM) (精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集(CD-ROM))

巻： 2020 号：秋季(CD-ROM) ページ： ROMBUNNO.H0206 発行年： 2020年08月20日
JST資料番号： Y0914B 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

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