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文献
J-GLOBAL ID：202002289921434769
整理番号：20A0191985
曲げ変形下のフレキシブルデバイスの性能劣化挙動に対する特性化の多次元スキーム【JST・京大機械翻訳】
A multidimensional scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation
Kamiya Shoji
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Gokisocho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan)
,
Izumi Hayato
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Gokisocho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan)
,
Sekine Tomohito
(Research Center for Organic Electronics (REOL), Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, 4-3-16 Jonan, Yonezawa, Yamagata 992-8510, Japan)
,
Shishido Nobuyuki
(Green Electronics Research Institute, 1-8 Hibikino, Wakamatsu-ku, Kitakyushu 808-0135, Japan)
,
Sugiyama Hiroko
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Gokisocho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan)
,
Haga Yasuko
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Gokisocho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan)
,
Minari Takeo
(National Institute for Materials Science, 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, Japan)
,
Koganemaru Masaaki
(Graduate School of Science and Engineering, Kagoshima University, 1-21-40 Korimoto, Kagoshima 890-0065, Japan)
,
Tokito Shizuo
(Research Center for Organic Electronics (REOL), Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, 4-3-16 Jonan, Yonezawa, Yamagata 992-8510, Japan)
資料名：
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻： 694 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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