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文献
J-GLOBAL ID：202002291682937078
整理番号：20A0911110
統合PMOSアレイを用いたBTIとRTNの統計的特性評価【JST・京大機械翻訳】
Statistical Characterization of BTI and RTN using Integrated pMOS Arrays
Stampfer B.
(Christian Doppler Laboratory for Single-Defect Spectroscopy, 1040 Vienna, Austria)
,
Simicic M.
(Imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium)
,
Weckx P.
(Imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium)
,
Abbasi A.
(Christian Doppler Laboratory for Single-Defect Spectroscopy, 1040 Vienna, Austria)
,
Kaczer B.
(Imec, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium)
,
Grasser T.
(Institute for Microelectronics, TU Wien, Gusshausstras&e 27-29, 1040 Vienna, Austria)
,
Waltl M.
(Christian Doppler Laboratory for Single-Defect Spectroscopy, 1040 Vienna, Austria)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： IIRW ページ： 1-5 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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