文献
J-GLOBAL ID:202002298933396859
整理番号:20A0912267
相変化メモリナノデバイスにおけるSEMイメージング攻撃のタンパー証拠【JST・京大機械翻訳】
Tamper Evidence of SEM Imaging Attack in Phase Change Memory Nanodevices
著者 (4件):
Noor Nafisa
(University of Connecticut,Department of Electrical and Computer Engineering,Storrs,CT,USA,06269)
,
Khan Raihan Sayeed
(University of Connecticut,Department of Electrical and Computer Engineering,Storrs,CT,USA,06269)
,
Muneer Sadid
(University of Connecticut,Department of Electrical and Computer Engineering,Storrs,CT,USA,06269)
,
Silva Helena
(University of Connecticut,Department of Electrical and Computer Engineering,Storrs,CT,USA,06269)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
NANO
ページ:
400-404
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)