文献
J-GLOBAL ID:202102212542936774
整理番号:21A0149198
電子部品検査のための半自動マスク生成【JST・京大機械翻訳】
Semiautomatic Mask Generating for Electronics Component Inspection
著者 (4件):
Wu Hao
(School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China)
,
Gao Wenbin
(School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China)
,
Xu Xiangrong
(School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China)
,
Xu Sixiang
(School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China)
資料名:
IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology
(IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology)
巻:
10
号:
12
ページ:
2099-2105
発行年:
2020年
JST資料番号:
W0590B
ISSN:
2156-3950
CODEN:
ITCPC8
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)