文献
J-GLOBAL ID:202102217615433807
整理番号:21A0011584
FPGAエッジ計算チップにおける設計欠陥修復のための回路進化の研究【JST・京大機械翻訳】
Study of Circuit Evolution to Repair Design Flaws in FPGA Edge Computing Chips
著者 (6件):
Chang Kuo-Chi
(Fujian University of Technology,Fujian Provincial Key Laboratory of Big Data Mining and Applications,Fuzhou,China)
,
Chu Kai-Chun
(Fujian University of Technology,Department of Business Management,Fuzhou,China)
,
Lin Yuh-Chung
(Fujian University of Technology,Fujian Provincial Key Laboratory of Big Data Mining and Applications,Fuzhou,China)
,
Wang Hsiao-Chuan
(Institute of Environmental Engineering, National Taiwan University,Taipei,Taiwan)
,
Hsu Tsui-Lien
(Institute of Construction Engineering and Management, National Central University,Taoyuan,Taiwan)
,
Chang Fu-Hsiang
(Shih-Hsin University,Department of Tourism,Taipei,Taiwan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
IMPACT
ページ:
232-235
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)