文献
J-GLOBAL ID:202102220655730095
整理番号:21A0444788
非試行的非ランダム化からのほとんど収束する回路下限【JST・京大機械翻訳】
Almost-Everywhere Circuit Lower Bounds from Non-Trivial Derandomization
著者 (3件):
Chen Lijie
(MIT,Cambridge,MA,USA)
,
Lyu Xin
(Tsinghua University,Beijing,China)
,
Williams R. Ryan
(MIT,Cambridge,MA,USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
FOCS
ページ:
1-12
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)