文献
J-GLOBAL ID:202102222631118755
整理番号:21A0011440
CAEとXceptionを用いた不均衡ウエハ画像データのための欠陥検出モデル【JST・京大機械翻訳】
A Defect Detection Model for Imbalanced Wafer Image Data Using CAE and Xception
著者 (4件):
Cha Jaegyeong
(Sungkyunkwan University,Department of Smart Factory Convergence,Suwon,Gyeonggi-do,Republic of Korea,16419)
,
Oh Seokju
(Sungkyunkwan University,Department of Smart Factory Convergence,Suwon,Gyeonggi-do,Republic of Korea,16419)
,
Kim Donghyun
(Sungkyunkwan University,Department of Smart Factory Convergence,Suwon,Gyeonggi-do,Republic of Korea,16419)
,
Jeong Jongpil
(Sungkyunkwan University,Department of Smart Factory Convergence,Suwon,Gyeonggi-do,Republic of Korea,16419)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
IDSTA
ページ:
28-33
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)