文献
J-GLOBAL ID:202102225568604230
整理番号:21A0184921
ナノスケール要素の信頼性理論における物理的および情報エントロピーの相関【JST・京大機械翻訳】
Correlation of Physical and Information Entropies in Reliability Theory for Nanoscale Elements
著者 (5件):
Kozhevnikov V. S.
(Molecular Electronics Research Institute, Moscow, Russia)
,
Matyushkin I. V.
(Institute for Design Problems in Microelectronics, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia)
,
Matyushkin I. V.
(National Research University of Electronic Technology (MIET), Moscow, Russia)
,
Chernyaev N. V.
(Molecular Electronics Research Institute, Moscow, Russia)
,
Zhukova T. D.
(Institute for Design Problems in Microelectronics, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia)
資料名:
Semiconductors
(Semiconductors)
巻:
54
号:
13
ページ:
1805-1810
発行年:
2020年
JST資料番号:
T0093A
ISSN:
1063-7826
CODEN:
SMICES
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)