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文献
J-GLOBAL ID：202102227699495396
整理番号：21A0957314
X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)による半導体表面のナノスケール元素分析
Elemental analysis of semiconductor surfaces at the nanoscale by X-ray aided noncontact atomic force microscopy (XANAM)
鈴木秀士
(名古屋大 工)
,
向井慎吾
(北大 触媒研)
,
CHUN W.-J.
(ICU)
,
野村昌治
(高エ研)
,
藤森俊太郎
(名古屋大 工)
,
池田弥央
(名古屋大 工)
,
牧原克典
(名古屋大 工)
,
宮崎誠一
(名古屋大 工)
,
朝倉清高
(北大 触媒研)
資料名：
日本物理学会講演概要集(CD-ROM)
(日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 75 号： 2 ページ： ROMBUNNO.11aJ1-4 発行年： 2020年09月23日
JST資料番号： S0671C ISSN： 2189-079X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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