文献
J-GLOBAL ID:202102229105232683
整理番号:21A0012715
自己指向チャネルメモリスタの経験的温度モデル【JST・京大機械翻訳】
Empirical Temperature Model of Self-Directed Channel Memristor
著者 (6件):
Bunnam Thanasin
(Newcastle University,μSystems Research Group,School of Engineering,UK)
,
Soltan Ahmed
(Nile University,NISC group,Egypt)
,
Sokolov Danil
(Newcastle University,μSystems Research Group,School of Engineering,UK)
,
Maevsky Oleg
(NanoDevices LTD,Russia)
,
Degenaar Patrick
(Newcastle University,μSystems Research Group,School of Engineering,UK)
,
Yakovlev Alex
(Newcastle University,μSystems Research Group,School of Engineering,UK)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
SENSORS
ページ:
1-4
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)