文献
J-GLOBAL ID:202102229924614569
整理番号:21A1300380
ICML:色解析とセグメンテーションを用いた機械学習ベーストランジスタレベル集積回路レイアウトエラー分類【JST・京大機械翻訳】
ICML: Machine Learning-based Transistor-level Integrated Circuit Layout Error Classification using Color Analysis and Segmentation
著者 (5件):
Salvador Rodolfo C.
(De La Salle University,Electronics and Communications Engineering Department,Manila,Philippines)
,
Cabatuan Melvin K.
(De La Salle University,Electronics and Communications Engineering Department,Manila,Philippines)
,
Concepcion Ronnie
(De La Salle University,Electronics and Communications Engineering Department,Manila,Philippines)
,
Ilagan Lorena
(University of Perpetual Help System, DALTA,Electronics Engineering Department,Las Pinas City,Philippines)
,
Roque Christian
(Center for Applied Microeletronics and Programming, Inc.,Muntinlupa City,Philippines)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
HNICEM
ページ:
1-6
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)