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文献
J-GLOBAL ID：202102232192166328
整理番号：21A0328601
電気光学サンプリングによる相対論的電子バンチの縦および横空間ビームプロファイル測定
Longitudinal and transverse spatial beam profile measurement of relativistic electron bunch by electro-optic sampling
Ota Masato
(Institute of Laser Engineering, Osaka University, Suita, Osaka, 565-0871, Japan)
,
Kan Koichi
(Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, Ibaraki, Osaka, 567-0047, Japan)
,
Komada Soichiro
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Mie University, Tsu, Mie, 514-8507, Japan)
,
Arikawa Yasunobu
(Institute of Laser Engineering, Osaka University, Suita, Osaka, 565-0871, Japan)
,
Shimizu Tomoki
(Institute of Laser Engineering, Osaka University, Suita, Osaka, 565-0871, Japan)
,
Mag-usara Valynn Katrine
(Institute of Laser Engineering, Osaka University, Suita, Osaka, 565-0871, Japan)
,
Sakawa Youichi
(Institute of Laser Engineering, Osaka University, Suita, Osaka, 565-0871, Japan)
,
Matsui Tatsunosuke
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Mie University, Tsu, Mie, 514-8507, Japan)
,
Nakajima Makoto
(Institute of Laser Engineering, Osaka University, Suita, Osaka, 565-0871, Japan)
資料名：
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻： 14 号： 2 ページ： 026503 (5pp) 発行年： 2021年02月
JST資料番号： F0599C ISSN： 1882-0778 CODEN： APEPC4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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